Characterization of copper ion sensing thiacalix[4]arene films evaporated on semiconductor substrates: Fid-Bau Portal

Characterization of copper ion sensing thiacalix[4]arene films evaporated on semiconductor substrates

Ben Ali, M. / Jaffrezic-Renault, N. / Martelet, C. / Ben Ouada, H. / Davenas, J. / Charbonnier, M.

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Titel:

Characterization of copper ion sensing thiacalix[4]arene films evaporated on semiconductor substrates

Beteiligte:

Ben Ali, M. (Autor:in) / Jaffrezic-Renault, N. (Autor:in) / Martelet, C. (Autor:in) / Ben Ouada, H. (Autor:in) / Davenas, J. (Autor:in) / Charbonnier, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -AMSTERDAM THEN LAUSANNE- C ; 14 ; 17-23

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0928-4931

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 660

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