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Development of High-temperature Microsample Testing

Zupan, M. / Hayden, M. J. / Boehlert, C. J. / Hemker, K. J.

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Titel:

Development of High-temperature Microsample Testing

Beteiligte:

Zupan, M. (Autor:in) / Hayden, M. J. (Autor:in) / Boehlert, C. J. (Autor:in) / Hemker, K. J. (Autor:in)

Erschienen in:

EXPERIMENTAL MECHANICS ; 41 ; 242-247

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0014-4851

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1

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