Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Influence of deep level impurities on the conductance technique for the determination of series resistance of a Schottky contact

    Neue Suche nach: Sanyal, S.
    Neue Suche nach: Chattopadhyay, P.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Influence of deep level impurities on the conductance technique for the determination of series resistance of a Schottky contact

    Neue Suche nach: Sanyal, S.
    Neue Suche nach: Chattopadhyay, P.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Influence of deep level impurities on the conductance technique for the determination of series resistance of a Schottky contact

    Neue Suche nach: Sanyal, S.
    Neue Suche nach: Chattopadhyay, P.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Influence of deep level impurities on the conductance technique for the determination of series resistance of a Schottky contact

    Beteiligte:

    Sanyal, S. (Autor:in) / Chattopadhyay, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 181 ; 15-18

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2001

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Capacitance-voltage characteristics of Schottky barrier diode in the presence of deep-level impurities and series resistance

    Chattopadhyay, P. / Sanyal, S. | British Library Online Contents | 1995

    Influence of series resistance and cooling conditions on I-V characteristics of SiC merged PiN Schottky diodes

    Hapka, A. / Janke, W. / Krasniewski, J. | British Library Online Contents | 2012

    Contact conductance across bolted plates

    Henson, Randy H. | TIBKAT | 1989

    Thermal contact conductance of coated surfaces

    Jeng, Y. R. / Chen, J. T. / Cheng, C. Y. | British Library Online Contents | 2006

    Effect of series resistance on the performance of high resistivity silicon Schottky diode

    Keffous, A. / Siad, M. / Mamma, S. et al. | British Library Online Contents | 2003

    Nach oben