Mechanical stress of the electrical performance of polycrystalline-silicon resistors: Fid-Bau Portal

Mechanical stress of the electrical performance of polycrystalline-silicon resistors

Nakabayashi, N. / Ohyama, H. / Simoen, E. / Ikegami, M. / Claeys, C. / Kobayashi, K. / Yoneoka, M. / Miyahara, K.

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Titel:

Mechanical stress of the electrical performance of polycrystalline-silicon resistors

Beteiligte:

Nakabayashi, N. (Autor:in) / Ohyama, H. (Autor:in) / Simoen, E. (Autor:in) / Ikegami, M. (Autor:in) / Claeys, C. (Autor:in) / Kobayashi, K. (Autor:in) / Yoneoka, M. (Autor:in) / Miyahara, K. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 16 ; 2579-2582

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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