Recording at the Nanometer Scale on p-Nitrobenzonitrile Thin Films by Scanning Tunneling Microscopy: Fid-Bau Portal

Recording at the Nanometer Scale on p-Nitrobenzonitrile Thin Films by Scanning Tunneling Microscopy

Shi, D. X. / Song, Y. L. / Zhu, D. B. / Zhang, H. X. / Xie, S. S. / Pang, S. J. / Gao, H.-J.

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Titel:

Recording at the Nanometer Scale on p-Nitrobenzonitrile Thin Films by Scanning Tunneling Microscopy

Beteiligte:

Shi, D. X. (Autor:in) / Song, Y. L. (Autor:in) / Zhu, D. B. (Autor:in) / Zhang, H. X. (Autor:in) / Xie, S. S. (Autor:in) / Pang, S. J. (Autor:in) / Gao, H.-J. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 13 ; 1103-1105

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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