Study of microstructure in SrTiO~3/Si by high-resolution transmission electron microscopy: Fid-Bau Portal

Study of microstructure in SrTiO~3/Si by high-resolution transmission electron microscopy

Yang, G. Y. / Finder, J. M. / Wang, J. / Wang, Z. L. / Yu, Z. / Ramdani, J. / Droopad, R. / Eisenbeiser, K. W. / Ramesh, R.

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Titel:

Study of microstructure in SrTiO~3/Si by high-resolution transmission electron microscopy

Beteiligte:

Yang, G. Y. (Autor:in) / Finder, J. M. (Autor:in) / Wang, J. (Autor:in) / Wang, Z. L. (Autor:in) / Yu, Z. (Autor:in) / Ramdani, J. (Autor:in) / Droopad, R. (Autor:in) / Eisenbeiser, K. W. (Autor:in) / Ramesh, R. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 17 ; 204-213

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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