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    Titel:

    Structural characterization of chemically deposited Bi2S3 and Bi2Se3 thin films

    Beteiligte:

    Lokhande, C. D. (Autor:in) / Sankapal, B. R. (Autor:in) / Mane, R. S. (Autor:in) / Pathan, H. M. (Autor:in) / Muller, M. (Autor:in) / Giersig, M. (Autor:in) / Tributsch, H. (Autor:in) / Ganeshan, V. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 187 ; 108-115

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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