Using of the Michelson Microwave Interferometer for the Measurement of Permittivity of Thin-Layer Materials: Fid-Bau Portal

Using of the Michelson Microwave Interferometer for the Measurement of Permittivity of Thin-Layer Materials

Borisov, V. I. / Karpenko, A. V.

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Titel:

Using of the Michelson Microwave Interferometer for the Measurement of Permittivity of Thin-Layer Materials

Beteiligte:

Borisov, V. I. (Autor:in) / Karpenko, A. V. (Autor:in)

Erschienen in:

RUSSIAN JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE TESTING C/C OF DEFEKTOSKOPIIA ; 37 ; 597-599

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

1061-8309

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1127

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