4H-SiC IMPATT Diode Fabrication and Testing: Fid-Bau Portal

4H-SiC IMPATT Diode Fabrication and Testing

Vassilevski, K. V. / Zorenko, A. V. / Zekentes, K. / Tsagaraki, K. / Bano, E. / Banc, C. / Lebedev, A. A.

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Titel:

4H-SiC IMPATT Diode Fabrication and Testing

Beteiligte:

Vassilevski, K. V. (Autor:in) / Zorenko, A. V. (Autor:in) / Zekentes, K. (Autor:in) / Tsagaraki, K. (Autor:in) / Bano, E. (Autor:in) / Banc, C. (Autor:in) / Lebedev, A. A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 1353-1358

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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