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RHEED: A Tool for Structural Investigations of Thin Polytypic SiC Layers

Scharmann, F. / Pezoldt, J.

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Titel:

RHEED: A Tool for Structural Investigations of Thin Polytypic SiC Layers

Beteiligte:

Scharmann, F. (Autor:in) / Pezoldt, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 463-466

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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