Structural and optical characterization of thick InGaN layers and InGaN/GaN MQW grown by molecular beam epitaxy: Fid-Bau Portal

Structural and optical characterization of thick InGaN layers and InGaN/GaN MQW grown by molecular beam epitaxy

Naranjo, F. B. / Fernandez, S. / Sanchez-Garcia, M. A. / Calle, F. / Calleja, E. / Trampert, A. / Ploog, K. H.

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Titel:

Structural and optical characterization of thick InGaN layers and InGaN/GaN MQW grown by molecular beam epitaxy

Beteiligte:

Naranjo, F. B. (Autor:in) / Fernandez, S. (Autor:in) / Sanchez-Garcia, M. A. (Autor:in) / Calle, F. (Autor:in) / Calleja, E. (Autor:in) / Trampert, A. (Autor:in) / Ploog, K. H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 93 ; 131 - 134

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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