Dynamic force microscopy with atomic resolution at low temperatures: Fid-Bau Portal

Dynamic force microscopy with atomic resolution at low temperatures

Schwarz, A. / Schwarz, U. D. / Langkat, S. / Holscher, H. / Allers, W. / Wiesendanger, R.

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Titel:

Dynamic force microscopy with atomic resolution at low temperatures

Beteiligte:

Schwarz, A. (Autor:in) / Schwarz, U. D. (Autor:in) / Langkat, S. (Autor:in) / Holscher, H. (Autor:in) / Allers, W. (Autor:in) / Wiesendanger, R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 188 ; 245-251

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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