True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy: Fid-Bau Portal

True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy

Sugawara, Y. / Ueyama, H. / Uchihashi, T. / Ohta, M. / Morita, S. / Suzuki, M. / Mishima, S.

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Titel:

True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy

Beteiligte:

Sugawara, Y. (Autor:in) / Ueyama, H. (Autor:in) / Uchihashi, T. (Autor:in) / Ohta, M. (Autor:in) / Morita, S. (Autor:in) / Suzuki, M. (Autor:in) / Mishima, S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 113/114 ; 364-370

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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