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Investigation on hydrogen annealing effect for various ferroelectric films by electrostatic force microscope

Shin, S. / Pi, U. H. / Kim, D. J. / Kang, B. S. / Noh, T. W. / Khim, Z. G.

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Titel:

Investigation on hydrogen annealing effect for various ferroelectric films by electrostatic force microscope

Beteiligte:

Shin, S. (Autor:in) / Pi, U. H. (Autor:in) / Kim, D. J. (Autor:in) / Kang, B. S. (Autor:in) / Noh, T. W. (Autor:in) / Khim, Z. G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 188 ; 411-415

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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