An electrostatic force microscope study of Si nanostructures on Si(100) as a function of post-annealing temperature and time: Fid-Bau Portal

An electrostatic force microscope study of Si nanostructures on Si(100) as a function of post-annealing temperature and time

Sun, H. T. / Li, Z. H. / Zhou, J. / Zhao, Y. Y. / Lu, M.

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Titel:

An electrostatic force microscope study of Si nanostructures on Si(100) as a function of post-annealing temperature and time

Beteiligte:

Sun, H. T. (Autor:in) / Li, Z. H. (Autor:in) / Zhou, J. (Autor:in) / Zhao, Y. Y. (Autor:in) / Lu, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 6109-6112

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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