Characterization of Ni-implanted GaN and SiC: Fid-Bau Portal

Characterization of Ni-implanted GaN and SiC

Pearton, S. J. / Theodoropoulou, N. / Overberg, M. E. / Abernathy, C. R. / Hebard, A. F. / Chu, S. N. / Wilson, R. G. / Zavada, J. M.

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Titel:

Characterization of Ni-implanted GaN and SiC

Beteiligte:

Pearton, S. J. (Autor:in) / Theodoropoulou, N. (Autor:in) / Overberg, M. E. (Autor:in) / Abernathy, C. R. (Autor:in) / Hebard, A. F. (Autor:in) / Chu, S. N. (Autor:in) / Wilson, R. G. (Autor:in) / Zavada, J. M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 94 ; 159 - 163

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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