Dislocation Microstructures Identification by X-Ray Diffraction-Line Broadening Analysis: Fid-Bau Portal

Dislocation Microstructures Identification by X-Ray Diffraction-Line Broadening Analysis

Bougrab, H. / Inal, K. / Berveiller, M.

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Titel:

Dislocation Microstructures Identification by X-Ray Diffraction-Line Broadening Analysis

Beteiligte:

Bougrab, H. (Autor:in) / Inal, K. (Autor:in) / Berveiller, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 404/407 ; 133-140

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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