Measurement of Stress in Phosphated-Iron Oxide Layers by In-Situ Diffraction of Synchrotron Radiation: Fid-Bau Portal

Measurement of Stress in Phosphated-Iron Oxide Layers by In-Situ Diffraction of Synchrotron Radiation

Panicaud, B. / Renault, P.-O. / Grosseau-Poussard, J. L. / Dinhut, J. F. / Thiaudiere, D. / Gailhanou, M.

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Titel:

Measurement of Stress in Phosphated-Iron Oxide Layers by In-Situ Diffraction of Synchrotron Radiation

Beteiligte:

Panicaud, B. (Autor:in) / Renault, P.-O. (Autor:in) / Grosseau-Poussard, J. L. (Autor:in) / Dinhut, J. F. (Autor:in) / Thiaudiere, D. (Autor:in) / Gailhanou, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 404/407 ; 809-816

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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