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    Titel:

    Density gradient in SiO2 films on silicon as revealed by positron annihilation spectroscopy

    Beteiligte:

    Revesz, A. G. (Autor:in) / Anwand, W. (Autor:in) / Brauer, G. (Autor:in) / Hughes, H. L. (Autor:in) / Skorupa, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 194 ; 101-105

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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