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    Titel:

    Characterization of Electronic Transients by an Ultrafast Scanning Tunneling Microscope

    Beteiligte:

    Lan, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    INTERNATIONAL JOURNAL OF NONLINEAR SCIENCES AND NUMERICAL SIMULATION ; 3 ; 617-620

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1565-1339

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  515.355

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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