Thermal stability of the exchange-biased NiFe/IrMn/CoFe electrode in the magnetic tunnel junctions: Fid-Bau Portal

Thermal stability of the exchange-biased NiFe/IrMn/CoFe electrode in the magnetic tunnel junctions

Jeong, H. D. / Lee, J. H. / Yoon, C. S. / Kim, C. K. / Yuh, J. H.

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Titel:

Thermal stability of the exchange-biased NiFe/IrMn/CoFe electrode in the magnetic tunnel junctions

Beteiligte:

Jeong, H. D. (Autor:in) / Lee, J. H. (Autor:in) / Yoon, C. S. (Autor:in) / Kim, C. K. (Autor:in) / Yuh, J. H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 199 ; 6-10

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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