SIMS and RBS study of thermally annealed Pd/b-SiC interfaces: Fid-Bau Portal

SIMS and RBS study of thermally annealed Pd/b-SiC interfaces

Roy, S. / Basu, S. / Jacob, C. / Tyagi, A. K.

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Titel:

SIMS and RBS study of thermally annealed Pd/b-SiC interfaces

Beteiligte:

Roy, S. (Autor:in) / Basu, S. (Autor:in) / Jacob, C. (Autor:in) / Tyagi, A. K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 202 ; 73-79

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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