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High resolution static SIMS imaging by time of flight SIMS

Hoshi, T. / Kudo, M.

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Titel:

High resolution static SIMS imaging by time of flight SIMS

Beteiligte:

Hoshi, T. (Autor:in) / Kudo, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 818-824

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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