SIMS depth profiling and TEM imaging of the SIMS altered layer: Fid-Bau Portal

SIMS depth profiling and TEM imaging of the SIMS altered layer

Christofi, A. / Walker, J. F. / McPhail, D. S.

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Titel:

SIMS depth profiling and TEM imaging of the SIMS altered layer

Beteiligte:

Christofi, A. (Autor:in) / Walker, J. F. (Autor:in) / McPhail, D. S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1381-1383

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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