A structural analysis of Bi/Si(1 0 0) 2 x n surfaces by ICISS: Fid-Bau Portal

A structural analysis of Bi/Si(1 0 0) 2 x n surfaces by ICISS

Oishi, N. / Saitoh, N. / Naitoh, M. / Nishigaki, S. / Shoji, F. / Nakanishi, S. / Umezawa, K.

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Titel:

A structural analysis of Bi/Si(1 0 0) 2 x n surfaces by ICISS

Beteiligte:

Oishi, N. (Autor:in) / Saitoh, N. (Autor:in) / Naitoh, M. (Autor:in) / Nishigaki, S. (Autor:in) / Shoji, F. (Autor:in) / Nakanishi, S. (Autor:in) / Umezawa, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 212-213 ; 373-377

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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