Local characterization of compositionally graded Pb(Zr,Ti)O3 thin films by scanning force microscope: Fid-Bau Portal

Local characterization of compositionally graded Pb(Zr,Ti)O3 thin films by scanning force microscope

Zeng, H. R. / Li, G. R. / Yin, Q. R. / Xu, Z. K.

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Titel:

Local characterization of compositionally graded Pb(Zr,Ti)O3 thin films by scanning force microscope

Beteiligte:

Zeng, H. R. (Autor:in) / Li, G. R. (Autor:in) / Yin, Q. R. (Autor:in) / Xu, Z. K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 99 ; 234-237

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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