Sulphur-Passivated GaAs Investigation Using High Resolution X-Ray Diffractometry: Fid-Bau Portal

Sulphur-Passivated GaAs Investigation Using High Resolution X-Ray Diffractometry

Pavlov, K. / Jamieson, I. / Jakovidis, G. / Petrakov, A. / Punegov, V.

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Titel:

Sulphur-Passivated GaAs Investigation Using High Resolution X-Ray Diffractometry

Beteiligte:

Pavlov, K. (Autor:in) / Jamieson, I. (Autor:in) / Jakovidis, G. (Autor:in) / Petrakov, A. (Autor:in) / Punegov, V. (Autor:in)

Erschienen in:

SURFACE REVIEW AND LETTERS ; 10 ; 533-536

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0218-625X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 530.417

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