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    Titel:

    Infrared analysis of thin layers by attenuated total reflection spectroscopy

    Beteiligte:

    Rochat, N. (Autor:in) / Chabli, A. (Autor:in) / Bertin, F. (Autor:in) / Vergnaud, C. (Autor:in) / Mur, P. (Autor:in) / Petitdidier, S. (Autor:in) / Besson, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 16-21

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2003

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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