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    Titel:

    Lateral scanning of Si based systems by measurements of the microwave photoconductance

    Beteiligte:

    Kunst, M. (Autor:in) / Wunsch, F. (Autor:in) / Jokisch, D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 173-178

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2003

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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