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    Titel:

    Recombination Lifetime in Silicon from Laser Microwave Photoconductance Decay Measurement

    Beteiligte:

    Ling, C. H. (Autor:in) / Teoh, H. K. (Autor:in) / Choi, W. K. (Autor:in) / Zhou, T. Q. (Autor:in) / Brieger, M. / Dittrich, H. / Klose, M. / Schock, H. W.

    Erschienen in:

    Applications in Photovoltaics ; 255

    MATERIALS SCIENCE FORUM

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    255 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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