Polytype determination at the SiC-SiO2 interface by internal electron photoemission scattering spectroscopy: Fid-Bau Portal

Polytype determination at the SiC-SiO2 interface by internal electron photoemission scattering spectroscopy

Afanas'ev, V. V. / Stesmans, A.

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Titel:

Polytype determination at the SiC-SiO2 interface by internal electron photoemission scattering spectroscopy

Beteiligte:

Afanas'ev, V. V. (Autor:in) / Stesmans, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 308-312

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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