Interface characteristics affecting electrical properties of Y-doped SiC: Fid-Bau Portal

Interface characteristics affecting electrical properties of Y-doped SiC

Siegelin, F. / Kleebe, H.-J. / Sigl, L. S.

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Titel:

Interface characteristics affecting electrical properties of Y-doped SiC

Beteiligte:

Siegelin, F. (Autor:in) / Kleebe, H.-J. (Autor:in) / Sigl, L. S. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 18 ; 2608-2617

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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