FTIR and XPS investigation of Er-doped SiO2-TiO2 films: Fid-Bau Portal

FTIR and XPS investigation of Er-doped SiO2-TiO2 films

Fang, Q. / Meier, M. / Yu, J. J. / Wang, Z. M. / Zhang, J. Y. / Wu, J. X. / Kenyon, A. / Hoffmann, P. / Boyd, I. W.

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Titel:

FTIR and XPS investigation of Er-doped SiO2-TiO2 films

Beteiligte:

Fang, Q. (Autor:in) / Meier, M. (Autor:in) / Yu, J. J. (Autor:in) / Wang, Z. M. (Autor:in) / Zhang, J. Y. (Autor:in) / Wu, J. X. (Autor:in) / Kenyon, A. (Autor:in) / Hoffmann, P. (Autor:in) / Boyd, I. W. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 105 ; 208-212

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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