Characterization of self-assembled dendrimers on Au(111) substrate by scanning probe microscopy: Fid-Bau Portal

Characterization of self-assembled dendrimers on Au(111) substrate by scanning probe microscopy

Jung, K. H. / Shin, H. K. / Kim, C. / Kwon, Y. S.

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Titel:

Characterization of self-assembled dendrimers on Au(111) substrate by scanning probe microscopy

Beteiligte:

Jung, K. H. (Autor:in) / Shin, H. K. (Autor:in) / Kim, C. (Autor:in) / Kwon, Y. S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -AMSTERDAM THEN LAUSANNE- C ; 24 ; 177-180

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0928-4931

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 660

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