X-ray diffraction topography observations of the core in Bi12SiO20 crystals doped with Mn: Fid-Bau Portal

X-ray diffraction topography observations of the core in Bi12SiO20 crystals doped with Mn

Milenov, T. I. / Botev, P. A. / Rafailov, P. M. / Gospodinov, M. M.

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Titel:

X-ray diffraction topography observations of the core in Bi12SiO20 crystals doped with Mn

Beteiligte:

Milenov, T. I. (Autor:in) / Botev, P. A. (Autor:in) / Rafailov, P. M. (Autor:in) / Gospodinov, M. M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 106 ; 148-154

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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