Characterization of Crystalline Silicon via XRPD: Fid-Bau Portal

Characterization of Crystalline Silicon via XRPD

Berti, G. / Bartoli, U. / Basile, G. / Becker, P. / Fitch, A.

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Titel:

Characterization of Crystalline Silicon via XRPD

Beteiligte:

Berti, G. (Autor:in) / Bartoli, U. (Autor:in) / Basile, G. (Autor:in) / Becker, P. (Autor:in) / Fitch, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 443/444 ; 83-86

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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