Nanocrystalline Si Studied by Beam-Based Positron Annihilation Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Nanocrystalline Si Studied by Beam-Based Positron Annihilation Spectroscopy

Coleman, P. G. / Pi, X. D. / Gwilliam, R. M. / Sealy, B. J.

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Titel:

Nanocrystalline Si Studied by Beam-Based Positron Annihilation Spectroscopy

Beteiligte:

Coleman, P. G. (Autor:in) / Pi, X. D. (Autor:in) / Gwilliam, R. M. (Autor:in) / Sealy, B. J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 445/446 ; 66-68

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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