Characterisation of Defects in Simulated Nanostructures: Fid-Bau Portal

Characterisation of Defects in Simulated Nanostructures

Van Petegem, S. / Kuriplach, J. / Van Swygenhoven, H. / Meyer, R. / Dauwe, C. / Segers, D.

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Titel:

Characterisation of Defects in Simulated Nanostructures

Beteiligte:

Van Petegem, S. (Autor:in) / Kuriplach, J. (Autor:in) / Van Swygenhoven, H. (Autor:in) / Meyer, R. (Autor:in) / Dauwe, C. (Autor:in) / Segers, D. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 445/446 ; 204-206

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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