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    Titel:

    Spatially Resolved Detection of Point Defects in the Vicinity of Scratches on GaAs by the Bonn Positron Microprobe

    Beteiligte:

    Staab, T. E. M. (Autor:in) / Zamponi, C. (Autor:in) / Haaks, M. (Autor:in) / Muller, I. (Autor:in) / Eichler, S. (Autor:in) / Maier, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 445/446 ; 510-512

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    3 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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