The reaction sequence and microstructure evolution of an MgB~2 layer during ex situ annealing of amorphous boron film: Fid-Bau Portal

The reaction sequence and microstructure evolution of an MgB~2 layer during ex situ annealing of amorphous boron film

Kim, H.-M. / Yim, S.-S. / Kim, K.-B. / Kang, D.-H. / Moon, S.-H. / Kim, Y.-W. / Lee, H.-N.

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Titel:

The reaction sequence and microstructure evolution of an MgB~2 layer during ex situ annealing of amorphous boron film

Beteiligte:

Kim, H.-M. (Autor:in) / Yim, S.-S. (Autor:in) / Kim, K.-B. (Autor:in) / Kang, D.-H. (Autor:in) / Moon, S.-H. (Autor:in) / Kim, Y.-W. (Autor:in) / Lee, H.-N. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 19 ; 409-412

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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