Comparative study of point defects induced in PbTe thin films doped with Ga by different techniques: Fid-Bau Portal

Comparative study of point defects induced in PbTe thin films doped with Ga by different techniques

Samoylov, A. M. / Buchnev, S. A. / Khoviv, A. M. / Dolgopolova, E. A. / Zlomanov, V. P.

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Titel:

Comparative study of point defects induced in PbTe thin films doped with Ga by different techniques

Beteiligte:

Samoylov, A. M. (Autor:in) / Buchnev, S. A. (Autor:in) / Khoviv, A. M. (Autor:in) / Dolgopolova, E. A. (Autor:in) / Zlomanov, V. P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 6 ; 481-485

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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