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    Titel:

    Transmission electron microscopy and x-ray diffraction investigation of the microstructure of nanoscale multilayer TiAlN/VN grown by unbalanced magnetron deposition

    Beteiligte:

    Luo, Q. (Autor:in) / Lewis, D. B. (Autor:in) / Hovsepian, P. E. (Autor:in) / Munz, W.-D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 19 ; 1093-1104

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    12 pages

    ISSN:

    0884-2914

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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