Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Transmission electron microscopy and high-resolution transmission electron microscopy study of nanostructure and metastable phase Evolution in pulsed-laser-ablation-deposited Ti-Si thin film

    Neue Suche nach: Bysakh, S.
    Neue Suche nach: Mitsuishi, K.
    Neue Suche nach: Song, M.
    Neue Suche nach: Furuya, K.
    Neue Suche nach: Chattopadhyay, K.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Transmission electron microscopy and high-resolution transmission electron microscopy study of nanostructure and metastable phase Evolution in pulsed-laser-ablation-deposited Ti-Si thin film

    Neue Suche nach: Bysakh, S.
    Neue Suche nach: Mitsuishi, K.
    Neue Suche nach: Song, M.
    Neue Suche nach: Furuya, K.
    Neue Suche nach: Chattopadhyay, K.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Transmission electron microscopy and high-resolution transmission electron microscopy study of nanostructure and metastable phase Evolution in pulsed-laser-ablation-deposited Ti-Si thin film

    Neue Suche nach: Bysakh, S.
    Neue Suche nach: Mitsuishi, K.
    Neue Suche nach: Song, M.
    Neue Suche nach: Furuya, K.
    Neue Suche nach: Chattopadhyay, K.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Transmission electron microscopy and high-resolution transmission electron microscopy study of nanostructure and metastable phase Evolution in pulsed-laser-ablation-deposited Ti-Si thin film

    Beteiligte:

    Bysakh, S. (Autor:in) / Mitsuishi, K. (Autor:in) / Song, M. (Autor:in) / Furuya, K. (Autor:in) / Chattopadhyay, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 19 ; 1118-1125

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0884-2914

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Highly textured nanostructure of pulsed laser deposited IrO~2 thin films as investigated by transmission electron microscopy

    Serventi, A. M. / El Khakani, M. A. / Saint-Jacques, R. G. et al. | British Library Online Contents | 2001

    Characterization of pulsed laser deposited PbO/MoS~2 by transmission electron microscopy

    Walck, S. D. / Donley, M. S. / Zabinski, J. S. et al. | British Library Online Contents | 1994

    Molybdenum nitride nanoparticles — high-resolution transmission electron microscopy study

    Chaudhuri, J. / Nyakiti, L. / Lee, R. et al. | British Library Online Contents | 2007

    High speed transmission electron microscopy laser quenching

    Bostanjoglo, O. / Otte, D. | British Library Online Contents | 1993

    High-resolution transmission electron microscopy study of twinned ZnS nanoparticles

    Ahn, H. B. / Lee, J. Y. | British Library Online Contents | 2013

    Nach oben