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    Titel:

    Structural characterization of epitaxial Y2O3 on Si (0 0 1) and of the Y2O3/Si interface

    Beteiligte:

    Spiga, S. (Autor:in) / Wiemer, C. (Autor:in) / Tallarida, G. (Autor:in) / Fanciulli, M. (Autor:in) / Malvestuto, M. (Autor:in) / Boscherini, F. (Autor:in) / D'Acapito, F. (Autor:in) / Dimoulas, A. (Autor:in) / Vellianitis, G. (Autor:in) / Mavrou, G. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 109 ; 47-51

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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