X-ray, optical and electrical characterization of doped nanocrystalline titanium oxide thin films: Fid-Bau Portal

X-ray, optical and electrical characterization of doped nanocrystalline titanium oxide thin films

Domaradzki, J. / Prociow, E. L. / Kaczmarek, D. / Berlicki, T. / Podhorodecki, A. / Kudrawiec, R. / Misiewicz, J.

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Titel:

X-ray, optical and electrical characterization of doped nanocrystalline titanium oxide thin films

Beteiligte:

Domaradzki, J. (Autor:in) / Prociow, E. L. (Autor:in) / Kaczmarek, D. (Autor:in) / Berlicki, T. (Autor:in) / Podhorodecki, A. (Autor:in) / Kudrawiec, R. (Autor:in) / Misiewicz, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 109 ; 249-251

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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