Alternating corrent scanning electrochemical microscopy (AC-SECM) studies on the surface of electrochemically polished NiTi shape memory alloys: Fid-Bau Portal

Alternating corrent scanning electrochemical microscopy (AC-SECM) studies on the surface of electrochemically polished NiTi shape memory alloys

Belgen, S. / Schulte, A. / Hessing, C. / Pohl, M. / Schuhmann, W.

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Titel:

Alternating corrent scanning electrochemical microscopy (AC-SECM) studies on the surface of electrochemically polished NiTi shape memory alloys

Beteiligte:

Belgen, S. (Autor:in) / Schulte, A. (Autor:in) / Hessing, C. (Autor:in) / Pohl, M. (Autor:in) / Schuhmann, W. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALWISSENSCHAFT UND WERKSTOFFTECHNIK ; 35 ; 276-279

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0933-5137

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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