Micro-Raman Investigation of Growth-Induced Defects in 6H and 4H SiC Crystals Grown by Sublimation Method: Fid-Bau Portal

Micro-Raman Investigation of Growth-Induced Defects in 6H and 4H SiC Crystals Grown by Sublimation Method

Seo, S. H. / Park, J. H. / Song, J. S. / Oh, M. H.

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Titel:

Micro-Raman Investigation of Growth-Induced Defects in 6H and 4H SiC Crystals Grown by Sublimation Method

Beteiligte:

Seo, S. H. (Autor:in) / Park, J. H. (Autor:in) / Song, J. S. (Autor:in) / Oh, M. H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 625-628

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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