ToF-SIMS depth profiling of alumina scales formed on a FeCrAl high-temperature alloy: Fid-Bau Portal

ToF-SIMS depth profiling of alumina scales formed on a FeCrAl high-temperature alloy

Engkvist, J. / Bexell, U. / Grehk, T. M. / Olsson, M.

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Titel:

ToF-SIMS depth profiling of alumina scales formed on a FeCrAl high-temperature alloy

Beteiligte:

Engkvist, J. (Autor:in) / Bexell, U. (Autor:in) / Grehk, T. M. (Autor:in) / Olsson, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 231/232 ; 850-853

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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