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Characterization of nickel phosphorus surface by ToF-SIMS

Zhang, B. C. / Barth, G. / Liu, H. K. / Chang, S.

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Titel:

Characterization of nickel phosphorus surface by ToF-SIMS

Beteiligte:

Zhang, B. C. (Autor:in) / Barth, G. (Autor:in) / Liu, H. K. (Autor:in) / Chang, S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 231/232 ; 868-873

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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