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    Titel:

    Evaluation of the nano-beam SIMS apparatus

    Beteiligte:

    Nojima, M. (Autor:in) / Toi, M. (Autor:in) / Maekawa, A. (Autor:in) / Tomiyasu, B. (Autor:in) / Sakamoto, T. (Autor:in) / Owari, M. (Autor:in) / Nihei, Y. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 231/232 ; 930-935

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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